半導体製造装置のプロセス改善と3C電子製品の性能向上に注力
半導体装置の故障箇所
マウンターのチップ掴み・吸着・パンニングのプロセスが、移動や摩擦衝突などの規定通りにずれていないかを高速カメラリベラーで観察し、問題点が発生した時点でプログラムエラーが発生した場合に修復します。目標を絞った改善を行うための設備
携帯電話落下試験
Revealer画像解析システム、Revealer-PMLAB 3D全視野ひずみ・変位測定システムは、携帯電話の落下の全過程を観察し、携帯電話の移動速度と変位を測定・解析し、落下地面の過渡成分の応力パラメータ変化を測定します。
スライド検出
Revealer 高速カメラは LCD 画面を撮影し、画面のリフレッシュ レートを調査し、ミリ秒レベルまで精度を遅らせます。
ディスペンサープロセスの研究
異なる気圧条件下での噴霧・描画状態を観察する高速度カメラ
